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红外气体分析仪介绍
日期:2024-09-28 17:48
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摘要:
红外气体分析仪介绍
红外气体分析仪,是利用红外线进**体分析。它基于待分析组分的浓度不同,吸收的辐射能不同,剩下的辐射能使得检测器里的温度升高不同,动片薄膜两边所受的压力不同,从而产生一个电容检测器的电信号。这样,红外线气体分析仪就可间接测量出待分析组分的浓度。
1.比尔定律
红外线气体分析仪是根据比尔定律制成的。假定被测气体为一个无限薄的平面.强度为k的红外线垂直穿透它,则能量衰减的量为:I=I0e-KCL(比尔定律)
式中:I--被介质吸收的辐射强度;
I0--红外线通过介质前的辐射强度;
K--待分析组分对辐射波段的吸收系数;
C--待分析组分的气体浓度;
L--气室长度(赦测气体层的厚度)
对于一台制造好了的红外线气体分析仪,其测量组分已定,即待分析组分对辐射波段的吸收系数k一定;红外光源已定,即红外线通过介质前的辐射强度I0一定;气室长度L一定。从比尔定律可以看出:通过测量辐射能量的衰减I,就可确定待分析组分的浓度C了。
红外气体分析仪,是利用红外线进**体分析。它基于待分析组分的浓度不同,吸收的辐射能不同,剩下的辐射能使得检测器里的温度升高不同,动片薄膜两边所受的压力不同,从而产生一个电容检测器的电信号。这样,红外线气体分析仪就可间接测量出待分析组分的浓度。
1.比尔定律
红外线气体分析仪是根据比尔定律制成的。假定被测气体为一个无限薄的平面.强度为k的红外线垂直穿透它,则能量衰减的量为:I=I0e-KCL(比尔定律)
式中:I--被介质吸收的辐射强度;
I0--红外线通过介质前的辐射强度;
K--待分析组分对辐射波段的吸收系数;
C--待分析组分的气体浓度;
L--气室长度(赦测气体层的厚度)
对于一台制造好了的红外线气体分析仪,其测量组分已定,即待分析组分对辐射波段的吸收系数k一定;红外光源已定,即红外线通过介质前的辐射强度I0一定;气室长度L一定。从比尔定律可以看出:通过测量辐射能量的衰减I,就可确定待分析组分的浓度C了。
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